[发明专利]一种射频场强度测量方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202210563135.3 | 申请日： | 2022-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN114814685A | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 史京生 | 申请（专利权）人： | 北京万东医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/44 | 分类号： | G01R33/44 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 张萌 |
| 地址： | 100016 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种射频场强度测量方法、装置、电子设备及存储介质，方法包括：通过磁共振系统对人体的目标部位施加去除了相位编码梯度的第一单回波序列，得到第一回波信号；通过所述磁共振系统对所述目标部位施加去除了相位编码梯度的第二单回波序列，得到第二回波信号；对于每一目标非共振射频脉冲，根据以下第一公式，计算该目标非共振射频脉冲的积分数值；根据以下第二公式，计算得到所述中心区域的磁共振射频场强度。本申请能够通过仅施加两次单回波序列(即仅需两次相位循环)便可计算得到射频场强度，相比于现有技术的需要进行四次相位循环，大幅简化了流程，减少了所需时间(相当于时间减半)，从而提升了计算出的射频场强度的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 强度 测量方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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