[发明专利]一种射频场强度测量方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202210563135.3 | 申请日: | 2022-05-18 |
公开(公告)号: | CN114814685A | 公开(公告)日: | 2022-07-29 |
发明(设计)人: | 史京生 | 申请(专利权)人: | 北京万东医疗科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R33/44 | 分类号: | G01R33/44 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 张萌 |
地址: | 100016 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 射频 强度 测量方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种射频场强度测量方法,其特征在于,所述方法包括:
通过磁共振系统对人体的目标部位施加去除了相位编码梯度的第一单回波序列,得到第一回波信号,其中,在施加所述去除了相位编码梯度的第一单回波序列的过程中,通过所述磁共振系统对所述目标部位施加至少一个用于引起所述第一回波信号相位变化的第一非共振射频脉冲,对于每一所述第一非共振射频脉冲,该第一非共振射频脉冲的平均频率越大,所述第一回波信号的相位越大,所述目标部位位于所述磁共振系统中的接收线圈中的中心区域;
通过所述磁共振系统对所述目标部位施加去除了相位编码梯度的第二单回波序列,得到第二回波信号,其中,在施加所述去除了相位编码梯度的第二单回波序列的过程中,通过所述磁共振系统对所述目标部位施加至少一个用于引起所述第二回波信号相位变化的第二非共振射频脉冲,对于每一所述第二非共振射频脉冲,该第二非共振射频脉冲的平均频率越大,所述第二回波信号的相位越大,所述第二回波信号的相位与所述第一回波信号的相位不同;
对于每一目标非共振射频脉冲,根据以下第一公式,计算该目标非共振射频脉冲的积分数值,其中,所述目标非共振射频脉冲包括所述第一非共振射频脉冲和所述第二非共振射频脉冲;
其中,A为所述积分数值,0为施加该目标非共振射频脉冲的起始时刻,T为该目标非共振射频脉冲的结束时刻,t为0到T之间的时刻,γ为磁共振的拉莫进动频率常数,wRF(t)为该目标非共振射频脉冲在t时刻的频率与所述磁共振系统的中心共振频率之差,B1,normalized(t)为该目标非共振射频脉冲在t时刻的频率与所述磁共振系统能够施加的非共振射频脉冲的频率上限之比值;
根据以下第二公式,计算得到所述中心区域的磁共振射频场强度;
其中,B1,peak为所述磁共振射频场强度,S为每一所述目标非共振射频脉冲的积分数值之和,为所述第一回波信号的相位与所述第二回波信号的相位之差。
2.根据权利要求1所述的射频场强度测量方法,其特征在于,
所述方法还包括:
在施加所述去除了相位编码梯度的第一单回波序列的过程中,通过所述磁共振系统对所述目标部位依次施加层面选择方向的第一流动补偿梯度和所述层面选择方向的第二流动补偿梯度,其中,所述第一流动补偿梯度和所述第二流动补偿梯度用于产生所述层面选择方向的第一一阶矩,所述第一一阶矩用于与由所述去除了相位编码梯度的第一单回波序列中的选层梯度所产生的一阶矩相互抵消,所述第一流动补偿梯度能够与所述第二流动补偿梯度相互抵消,对于每一所述第一非共振射频脉冲,若该第一非共振射频脉冲的结束时刻在施加所述第二流动补偿梯度的起始时刻之前,则所述第二流动补偿梯度还用于在所述层面选择方向上打散该第一非共振射频脉冲所激发的串扰信号;
所述方法还包括:
在施加所述去除了相位编码梯度的第二单回波序列的过程中,通过所述磁共振系统对所述目标部位依次施加所述层面选择方向的第三流动补偿梯度和所述层面选择方向的第四流动补偿梯度,其中,所述第三流动补偿梯度和所述第四流动补偿梯度用于产生所述层面选择方向的第二一阶矩,所述第二一阶矩用于与由所述去除了相位编码梯度的第二单回波序列中的选层梯度所产生的一阶矩相互抵消,所述第三流动补偿梯度能够与所述第四流动补偿梯度相互抵消,对于每一所述第二非共振射频脉冲,若该第二非共振射频脉冲的结束时刻在施加所述第四流动补偿梯度的起始时刻之前,则所述第四流动补偿梯度还用于在所述层面选择方向上打散该第二非共振射频脉冲所激发的串扰信号。
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