[发明专利]基于瞬态光栅调制采样的超短脉冲测量装置及测量方法在审

专利信息
申请号: 202210556066.3 申请日: 2022-05-19
公开(公告)号: CN114942080A 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 黄沛;曹华保;付玉喜;袁浩;王虎山;王向林;刘柯阳;侯洵 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 杨引雪
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及脉冲测量装置及其使用方法,具体涉及基于瞬态光栅调制采样的超短脉冲测量装置及测量方法,为解决现有技术存在测量方法复杂、难度大,或者是因为对波段的限制,导致可见光以及近红外波段的超短脉冲激光难以简单、有效测量的不足之处。本发明包括分束片、第一反射镜、延时线,以及沿光路依次设置的尖劈对、三孔光阑、聚焦镜、瞬态光栅晶体和探测器;所述分束片位于待测飞秒激光的出射光路上,用于将待测飞秒激光的出射光分为基频光束和待测光束;所述尖劈对将基频光束和待测光束进行合束,合束后的光最终通过瞬态光栅晶体;调整延时线可获得不同强度瞬态光栅信号光,经过简单转换后获得待测飞秒激光的光谱、脉宽和相位信息。
搜索关键词: 基于 瞬态 光栅 调制 采样 超短 脉冲 测量 装置 测量方法
【主权项】:
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