[发明专利]三维尺寸测量装置在审

专利信息
申请号: 202210512853.8 申请日: 2022-05-12
公开(公告)号: CN115014197A 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 袁国凯;欧华泉 申请(专利权)人: 深圳市利器精工科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01B11/02
代理公司: 深圳市恒程创新知识产权代理有限公司 44542 代理人: 苗广冬
地址: 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种三维尺寸测量装置,其中,三维尺寸测量装置包括:支架;夹持机构,用于夹持待测量的工件;旋转机构,旋转机构设置于支架,旋转机构包括转盘和第一驱动器,转盘与夹持机构连接,第一驱动器的驱动端与转盘连接,以驱动转盘转动而带动夹持机构转动;平面测量机构,平面测量机构位于夹持机构的上方,平面测量机构包括用于拍摄工件的平面测量相机;高度测量机构,高度测量机构包括激光位移传感器,支架上设有第一导轨,第一导轨沿X轴方向延伸,激光位移传感器连接有与第一导轨连接的第一滑块;支架上设有第二驱动器,第二驱动器的驱动端与激光位移传感器连接。采用本发明的技术方案可以提高零件尺寸的测量效率。
搜索关键词: 三维 尺寸 测量 装置
【主权项】:
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