[发明专利]通过耦合馈电倒置微带线测量液晶材料介电常数的装置和方法在审
| 申请号： | 202210470135.9 | 申请日： | 2022-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN114859133A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 张永伟;邢慧娟;彭昊锋;谢慧琳;朱家奇;施佺;吕先洋 | 申请（专利权）人： | 南通大学 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人： | 秦秋星 |
| 地址： | 226019 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开提供了一种通过耦合馈电倒置微带线测量液晶材料介电常数的装置和方法，装置包括三块介质板，第一块介质板构建倒置微带线、偏压延伸线、耦合电容片和用于馈电的共面波导；第二块介质板设置矩形空腔用于装载注入的待测液晶材料；第三块介质板作为地，在倒置微带线和地之间施加偏压，对处于空腔中的液晶分子的长轴向进行调制。本发明利用了倒置微带线的谐振特性，并通过电容耦合与对其进行馈电的共面波导间接相连。避免了倒置微带线和共面波导通过过孔直接相连导致的将偏压引入射频链路的问题，从而可以施加较大的偏压对液晶材料进行各向异性的调制，实现在较大的动态范围内对液晶材料介电常数及各向异性范围的精确量化。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 耦合 馈电 倒置 微带 测量 液晶 材料 介电常数 装置 方法 | ||
【主权项】：
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