[发明专利]一种等离子体电子密度测量装置在审
| 申请号： | 202210442832.3 | 申请日： | 2022-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN114867178A | 公开（公告）日： | 2022-08-05 |
| 发明（设计）人： | 魏学朝;解家兴;刘海庆;张际波;揭银先 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | H05H1/00 | 分类号： | H05H1/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 陈旭红 |
| 地址： | 230031 *** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种等离子体电子密度测量装置，包括第一太赫兹固体源、第二太赫兹固体源、干涉仪光路等器件；干涉仪光路用于将第一固体源产生的光束输出至第一探测器；其还用于将第一固体源产生的光束输出至第二探测器；干涉仪光路用于将第二固体源产生的光束输出至第一探测器；其还用于将第二固体源产生的光束输出至经过等离子体的角反射镜，以使第二探测器接收由角反射镜返回的光束；第一探测器和第二探测器用于得到合束信号，以供装置根据合束信号计算等离子体电子密度。本发明实施例提供的等离子体电子密度测量装置布局紧凑，使用光学器件较少，无需使用大型支架，便于在大型等离子体实验装置上设计及安装，运行稳定，运行维护成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 等离子体 电子密度 测量 装置 | ||
【主权项】：
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