[发明专利]电路板测试结构及电路板测试治具在审
| 申请号： | 202210433708.0 | 申请日： | 2022-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN115586417A | 公开（公告）日： | 2023-01-10 |
| 发明（设计）人： | 代华锋;王光星;朱树春;张祥标 | 申请（专利权）人： | 联宝（合肥）电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04;G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人： | 王曌寅 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经济技*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种电路板测试结构及电路板测试治具，该电路板测试结构包括针板、测试电路板及探针；测试电路板设于针板的第一面，针板上设有穿孔，探针的第一端穿过穿孔并与测试电路板连接，第二端凸出于针板的第二面，并用于连接待测电路板。本公开实施例提供的一种电路板测试结构及电路板测试治具，测试电路板替代探针所连的电线，可避免/降低出现接触不良的现象，可提高测试的稳定性；另外，探针与测试电路板相对对立设置，方便拆装操作，利于后期维护，以及测试电路板具有较高的集成性，具备多个信号测试点，针对不同的性能测试，配合相应的探针，可组成多种测试结构，进而提高测试的通用性。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 测试 结构 | ||
【主权项】：
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