[发明专利]电路板测试结构及电路板测试治具

权利要求书

1.一种电路板测试结构，其中，包括针板(1)、测试电路板(2)及探针(3)；

所述测试电路板(2)设于所述针板(1)的第一面，所述针板(1)上设有穿孔，所述探针(3)的第一端穿过所述穿孔并与所述测试电路板(2)连接，第二端凸出于所述针板(1)的第二面，并用于连接待测电路板。

2.根据权利要求1所述的电路板测试结构，其中，所述探针(3)包括本体(31)和伸缩部(32)，所述伸缩部(32)的一端与所述本体(31)伸缩连接；

所述本体(31)的外壁与所述穿孔的内壁连接，且所述伸缩部(32)远离所述本体(31)的一端穿过所述穿孔与所述测试电路板(2)抵接。

3.根据权利要求2所述的电路板测试结构，其中，还包括盖板(4)，所述盖板(4)与所述针板(1)的第一面连接，且所述测试电路板(2)设于所述针板(1)及所述盖板(4)之间。

4.根据权利要求2所述的电路板测试结构，其中，还包括支架(5)；

所述支架(5)包括纵杆(51)和横杆(52)，所述横杆(52)的一端与所述纵杆(51)连接，另一端与所述盖板(4)连接。

5.根据权利要求4所述的电路板测试结构，其中，所述横杆(52)与所述盖板(4)之间设有伸缩结构(6)；

所述伸缩结构(6)包括驱动组件和伸缩组件，所述驱动组件与所述横杆(52)固定连接，所述伸缩组件与所述盖板(4)远离所述针板(1)的一侧固定连接。

6.根据权利要求1所述的电路板测试结构，其中，还包括散热器(11)，所述散热器(11)与所述针板(1)连接；

所述散热器(11)的贴合面与所述针板(2)的第二面同侧，并用于与所述待测电路板上的元件贴合。

7.根据权利要求1所述的电路板测试结构，其中，还包括排线(12)；

所述排线(12)与所述测试电路板(2)连接，并用于输出检测信号。

8.根据权利要求7所述的电路板测试结构，其中，所述针板(1)的第一面设有安装槽(13)，所述测试电路板(2)设于所述安装槽(13)内。

9.一种电路板测试治具，其中，包括如权利要求1至8中任一项所述的电路板测试结构。

10.根据权利要求9所述的电路板测试治具，其中，还包括操作平台，所述操作平台上设有移动台、安装位和测试位；

所述移动台用于安装所述待测电路板，且所述移动台沿所述安装位和所述测试位间移动；

所述针板位于所述移动台上方，且与所述移动台平行、间隔设置。