[发明专利]电路板测试结构及电路板测试治具

说明书

本公开涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种电路板测试结构及电路板测试治具，该电路板测试结构包括针板、测试电路板及探针；测试电路板设于针板的第一面，针板上设有穿孔，探针的第一端穿过穿孔并与测试电路板连接，第二端凸出于针板的第二面，并用于连接待测电路板。本公开实施例提供的一种电路板测试结构及电路板测试治具，测试电路板替代探针所连的电线，可避免/降低出现接触不良的现象，可提高测试的稳定性；另外，探针与测试电路板相对对立设置，方便拆装操作，利于后期维护，以及测试电路板具有较高的集成性，具备多个信号测试点，针对不同的性能测试，配合相应的探针，可组成多种测试结构，进而提高测试的通用性。

技术领域

本公开涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种电路板测试结构及电路板测试治具。

背景技术

在对电路板进行测试时，需要使用探针转接待测电路板上的电信号。现有的测试结构中，包括上盖板和下载板，上盖板上设置用于与待测电路板连接的探针结构，下载板用于承载待测电路板，上盖板盖在待测电路板上，探针与待测电路板抵接导通；其中，上盖板根据测试需求在相应位置设置探针固定块，探针固定块固定探针，探针的末端穿过上盖板位于上盖板的背侧，并与导线连接。

但是，现有的测试结构中，探针采用绕线方式连接，上盖板的背侧线材混乱，易出现接触不良的现象，从而产生误测的现象；另外，上盖上探针的位置均针对测试需求进行设置，一般仅能进行一种电路板性能测试，通用性较低。

发明内容

为解决现有技术中存在的至少以上技术问题，本公开实施例提供了一种电路板测试结构及电路板测试治具。

本公开实施例一方面提供一种电路板测试结构，包括针板、测试电路板及探针；所述测试电路板设于所述针板的第一面，所述针板上设有穿孔，所述探针的第一端穿过所述穿孔并与所述测试电路板连接，第二端凸出于所述针板的第二面，并用于连接待测电路板。

在一些实施例中，所述探针包括本体和伸缩部，所述伸缩部的一端与所述本体伸缩连接；所述本体的外壁与所述穿孔的内壁固定连接，且所述伸缩部远离所述本体的一端穿过所述穿孔与所述测试电路板抵接。

在一些实施例中，还包括盖板，所述盖板与所述针板的第一面连接，且所述测试电路板设于所述针板及所述盖板之间。

在一些实施例中，还包括支架；所述支架包括纵杆和横杆，所述横杆的一端与所述纵杆连接，另一端与所述盖板连接。

在一些实施例中，所述横杆与所述盖板之间设有伸缩结构；所述伸缩结构包括驱动组件和伸缩组件，所述驱动组件与所述横杆固定连接，所述伸缩组件与所述盖板远离所述针板的一侧固定连接。

在一些实施例中，还包括散热器，所述散热器与所述针板连接；所述散热器的贴合面与所述针板的第二面同侧，并用于与所述待测电路板上的元件贴合。

在一些实施例中，还包括排线；所述排线与所述测试电路板连接，并用于输出检测信号。

在一些实施例中，所述针板的第一面设有安装槽，所述测试电路板设于所述安装槽内。

本公开实施例另一方面还提供一种电路板测试治具，包括上述电路板测试结构。

在一些实施例中，还包括操作平台，所述操作平台上设有移动台、安装位和测试位；所述移动台用于安装所述待测电路板，且所述移动台沿所述安装位和所述测试位间移动；所述针板位于所述移动台上方，且与所述移动台平行、间隔设置。

本公开实施例提供的一种电路板测试结构及电路板测试治具，测试电路板替代探针所连的电线，可避免/降低出现接触不良的现象，可提高测试的稳定性；另外，探针与测试电路板相对对立设置，方便拆装操作，利于后期维护，以及测试电路板具有较高的集成性，具备多个信号测试点，针对不同的性能测试，配合相应的探针，可组成多种测试结构，进而提高测试的通用性。

附图说明