[发明专利]手性超表面和激子强耦合最大化圆二色性参数优化方法及结构有效
| 申请号： | 202210410992.X | 申请日： | 2022-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN114839703B | 公开（公告）日： | 2023-06-16 |
| 发明（设计）人： | 赵文娟;刘绍鼎;张强;郑海燕;白雅婷 | 申请（专利权）人： | 太原理工大学 |
| 主分类号： | G02B1/08 | 分类号： | G02B1/08;G02B5/30;B82Y30/00;G01N21/21;G01N21/19 |
| 代理公司： | 太原晋科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14110 | 代理人： | 任林芳 |
| 地址： | 030024 *** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明属于微纳光学、超材料技术领域，手性纳米结构的手性响应由其结构和材料特性决定，其结构的辐射损耗和非辐射损耗都是确定的，缺乏可调节性和主动调控的手段，本发明提供一种手性超表面和分子激子强耦合最大化圆二色性参数优化方法及结构，手性超表面的手性模式和激子模式发生强耦合效应，会出现模式劈裂的现象。通过调节本发明的超表面结构的尺寸和分子激子的响应参数实现劈裂模式辐射损耗和非辐射损耗的匹配，达到严格耦合区域，实现对杂化结构劈裂的两个模式的圆二色性增强和调控。本发明在圆二色性谱中能够清晰地分辨出两个圆二色性峰位置就是两个劈裂的频率位置，为整个杂化系统的强耦合效应的模式劈裂分析提供了直观的数据。 | ||
| 搜索关键词： | 手性 表面 激子 耦合 最大化 圆二色性 参数 优化 方法 结构 | ||
【主权项】：
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