[发明专利]一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法在审
| 申请号： | 202210396988.2 | 申请日： | 2022-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN114755300A | 公开（公告）日： | 2022-07-15 |
| 发明（设计）人： | 赵纪元;王琛玮;王磊;韩瑞;颜江涛 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/44 |
| 代理公司： | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人： | 安彦彦 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，包括以下步骤：在待测试块进行直线B扫，获取包括n个A扫信号的B扫信号；将无缺陷参考信号和B扫信号归一化处理，获得缺陷回波信号；从缺陷回波信号中分别提取每个A扫信号中的缺陷纵波回波时刻；以第一个扫查位置为原点，扫查方向为x正向，待测试块内部垂直于待测试块表面方向为y正向，建立坐标系；根据扫查点坐标、缺陷纵波回波时刻以及纵波波速，得到缺陷位置与尺寸。本发明的结果可以直接输出缺陷的位置和尺寸，在坐标系中绘制出缺陷形貌，输出结果直观。本发明在直线B扫的数据基础之上，即可获取缺陷尺寸，相较通过C扫检测缺陷的方式，检测效率有明显的提升。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 超声 无损 检测 缺陷 定位 定量 方法 | ||
【主权项】：
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