[发明专利]一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法

权利要求书

1.一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

在待测试块的待检测区域进行直线B扫，获取包括n个A扫信号的B扫信号S；

将无缺陷参考信号S_R和B扫信号S归一化处理，获得缺陷回波信号S’；

从缺陷回波信号S’中分别提取每个A扫信号中的缺陷纵波回波时刻t_i；i表示扫查点的标号；

以第一个扫查位置为原点，扫查方向为x正向，待测试块内部垂直于待测试块表面方向为y正向，建立坐标系；

根据扫查点坐标、缺陷纵波回波时刻以及纵波波速，得到缺陷位置与尺寸。

2.根据权利要求1所述的一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，纵波波速V通过在与待测试块相同材料的标准试块上进行测定得到。

3.根据权利要求2所述的一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，在标准试块表面进行A扫实验，从信号中提取二次纵波、四次纵波回波信号的到达时刻T₂、T₄，根据二次纵波、四次纵波回波信号的到达时刻T₂、T₄，确定纵波波速。

4.根据权利要求3所述的一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，纵波波速通过下式计算得到：

式中，H为标准试块厚度。

5.根据权利要求1所述的一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，无缺陷参考信号S_R通过在待测试块的无缺陷处进行A扫获得。

6.根据权利要求1所述的一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，将无缺陷参考信号S_R和B扫信号S归一化处理，获得缺陷回波信号S’的具体过程为：用B扫信号S减去无缺陷参考信号S_R，得到缺陷回波信号S’。

7.根据权利要求1所述的一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，缺陷位置的圆心通过下式计算得到：

式中，i为1到n，D(x_D,y_D)为缺陷位置圆心。

8.根据权利要求7所述的一种基于超声无损检测的缺陷定位定量检测方法，其特征在于，缺陷尺寸r_D通过下式计算得到：