[发明专利]用于人工智能电路缺陷检测系统的采样调制装置在审
| 申请号： | 202210368698.7 | 申请日： | 2022-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN115166471A | 公开（公告）日： | 2022-10-11 |
| 发明（设计）人： | 李旭;麻晓菲 | 申请（专利权）人： | 重庆电子工程职业学院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G06K9/00;G06K9/62;G06N3/04 |
| 代理公司： | 江苏致邦律师事务所 32230 | 代理人： | 葛胜非 |
| 地址： | 401331 重*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本申请提供一种用于人工智能电路缺陷检测系统的采样调制装置。其包括：电极调制器、检测端子阵列，还可进一步在两者之间设置相应约束电极。本申请通过电极调制器模拟测试目标检测电路所需电荷脉冲，通过检测端子阵列中形成的寄生感抗调制目标检测电路背侧各信号节点位置的响应信号，从而提取出其中包含较多电路缺陷特征的谐波分量，实现更为精准的缺陷检测效果。本申请利用电荷脉冲序列注入检测点，实现对目标检测电路中全部检测点坐标位置的快速遍历，从而全方位获得目标检测电路运行模态，具有检测效率高、检测结论更为准确且能够直接通过测试人员终端直观进行提示的优势。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 人工智能 电路 缺陷 检测 系统 采样 调制 装置 | ||
【主权项】：
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