[发明专利]射频芯片的数据补偿方法在审

专利信息
申请号: 202210366651.7 申请日: 2022-04-08
公开(公告)号: CN114755558A 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 赵英伟;杨柳;卢旭坤;袁俊;白世发;张亦锋 申请(专利权)人: 广东利扬芯片测试股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04;G01R35/00
代理公司: 北京前审知识产权代理有限公司 11760 代理人: 尹秀峰;张波涛
地址: 523000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 公开了射频芯片的数据补偿方法,方法中,校准射频芯片的射频通路损耗,射频芯片固定在承载板上;矢量网络分析仪校准射频芯片;开始测试后在得到射频芯片少量测试数据后暂停测试,取一部分的测试数据作为原始测试数据基于邻域风险最小化原则的mixup方法进行数据增强;通过增加自变量阶次的方式来提高补偿精度,根据目标值求解相应系数,计算得到真实值的修正公式,将得到的数据误差补偿模型进行误差的精度验证,满足精度则确定多项式,保存结果并在之后的测试中对测试值代入,以还原真实值;对补偿前的测试数据也代入多项式求解,根据补偿后的数值重新分析测试数据的良率,输出补偿前后的良率对比。
搜索关键词: 射频 芯片 数据 补偿 方法
【主权项】:
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