[发明专利]一种三维互补场效应晶体管及其制备方法在审
申请号: | 202210346826.8 | 申请日: | 2022-03-31 |
公开(公告)号: | CN114937636A | 公开(公告)日: | 2022-08-23 |
发明(设计)人: | 万景;周鹏;包文中;童领;肖凯 | 申请(专利权)人: | 复旦大学 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L27/12 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;陆尤 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明属于半导体器件技术领域,具体为一种三维互补场效应晶体管及其制备方法。本发明将两种不同极性的场效应晶体管进行三维堆叠,通过同一个共栅极同时控制两个晶体管的导通状态,经互连金属连接两个晶体管的漏电极端,构建成三维互补场效应晶体管;制备步骤包括:在SOI顶层硅上形成有源区硅;在有源区硅上形成源漏接触金属;沉积一下介质层;形成共栅极;沉积一上介质层;在上介质层上形成二维半导体材料;在二维半导体材料上形成源漏接触金属;进行互连通孔的光刻、刻蚀和金属淀积,形成互连金属。本发明提供的三维互补场效应晶体管,能够提高集成电路单位集成密度,在工艺上易于实现,在逻辑电路、光电集成系统中具有广泛的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 三维 互补 场效应 晶体管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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