[发明专利]芯片验证方法及装置在审
| 申请号： | 202210344071.8 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN114936144A | 公开（公告）日： | 2022-08-23 |
| 发明（设计）人： | 刘才齐;冷祥纶;李益全;李林鹏;胡昂 | 申请（专利权）人： | 上海阵量智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 韩梦旭 |
| 地址： | 200235 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及芯片验证技术领域，具体提供了一种芯片验证方法及装置。一种芯片验证方法，包括：获取待测用例在第一验证平台的用例数据，以及所述待测用例的配置说明文件；基于预设工具脚本解析所述配置说明文件，根据解析结果将所述用例数据配置到第二验证平台；在所述第二验证平台执行所述待测用例，得到所述待测用例的验证结果。本公开实施方式，提高用例移植效率，从而使得芯片验证更加高效流畅，缩短验证周期。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 验证 方法 装置 | ||
【主权项】：
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