[发明专利]芯片验证方法及装置

说明书

本公开涉及芯片验证技术领域，具体提供了一种芯片验证方法及装置。一种芯片验证方法，包括：获取待测用例在第一验证平台的用例数据，以及所述待测用例的配置说明文件；基于预设工具脚本解析所述配置说明文件，根据解析结果将所述用例数据配置到第二验证平台；在所述第二验证平台执行所述待测用例，得到所述待测用例的验证结果。本公开实施方式，提高用例移植效率，从而使得芯片验证更加高效流畅，缩短验证周期。

技术领域

本公开涉及芯片验证技术领域，具体涉及一种芯片验证方法及装置。

背景技术

芯片验证是芯片开发的重要环节，其贯穿芯片的整个开发周期，随着消费电子领域中芯片技术的迅速迭代，决定了对芯片验证的加速需求越来越强烈。

以ISP(Image Signal Processing，图像信号处理)芯片为例，现如今，ISP芯片不仅具有高分辨率(可达4K甚至8K)和高帧率(可达30FPS)的特性，而且算法集成度和功能日趋复杂，导致一个待测用例的验证流程非常复杂，验证周期长。

发明内容

为提高芯片验证效率，缩短芯片验证周期，本公开实施方式提供了一种芯片验证方法、装置、电子设备以及存储介质。

第一方面，本公开实施方式提供了一种芯片验证方法，包括：

获取待测用例在第一验证平台的用例数据，以及所述待测用例的配置说明文件；

基于预设工具脚本解析所述配置说明文件，根据解析结果将所述用例数据配置到第二验证平台；

在所述第二验证平台执行所述待测用例，得到所述待测用例的验证结果。

在一些实施方式中，所述用例数据包括初始化数据文件和芯片指令文件；所述基于预设工具脚本解析所述配置说明文件，根据解析结果将所述用例数据配置到第二验证平台，包括：

基于所述预设工具脚本解析所述配置说明文件，得到所述初始化数据文件的第一解析结果和所述芯片指令文件的第二解析结果；

根据所述第一解析结果将所述初始化数据文件存储于所述第二验证平台的存储组件的第一存储位置，根据所述第二解析结果将所述芯片指令文件存储于所述第二验证平台的存储组件的第二存储位置。

在一些实施方式中，所述用例数据包括寄存器配置文件；所述基于预设工具脚本解析所述配置说明文件，根据解析结果将所述用例数据配置到第二验证平台，包括：

基于所述预设工具脚本解析所述配置说明文件，得到所述寄存器配置文件的第三解析结果；

根据所述第三解析结果对所述寄存器配置文件进行数据格式转换，得到目标寄存器配置文件；所述目标寄存器配置文件包括寄存器地址和寄存器值；

将所述目标寄存器配置文件存储于所述第二验证平台的存储组件的第三存储位置。

在一些实施方式中，所述在所述第二验证平台执行所述待测用例，得到所述待测用例的验证结果，包括：

在所述第二验证平台执行所述待测用例，得到实际执行结果；

基于所述预设工具脚本获取所述待测用例包括的预期结果文件，根据所述实际执行结果与所述预期执行结果文件，得到所述待测用例的验证结果。

在一些实施方式中，所述基于所述预设工具脚本获取所述待测用例包括的预期结果文件，包括：

基于所述预设工具脚本解析所述配置说明文件，得到所述预期结果文件的第四解析结果；所述第四解析结果包括所述预期结果文件的存储位置以及数据长度；

根据所述第四解析结果由存储组件中获取得到所述预期结果文件。