[发明专利]用于重新映射存储器子系统中的不良块的系统和方法在审
| 申请号： | 202210342434.4 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN115145755A | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | A·巴德瓦杰 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G06F11/07 | 分类号： | G06F11/07;G11C16/16;G11C16/34;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及用于重新映射存储器子系统中的不良块的系统和方法。公开一种系统，其包含：存储器装置，其包含多个存储器平面；以及处理装置，其以操作方式与所述存储器装置耦合以执行包括以下的操作：产生所述存储器装置的块条带，其中所述块条带包含跨越所述多个存储器平面布置的多个块；确定所述块条带的所述多个块中的第一块与错误条件相关联，其中所述第一块与所述多个平面中的第一平面相关联；以及响应于确定所述块条带的所述多个块中的所述第一块与所述错误条件相关联，对所述多个块执行错误恢复操作以利用所述块条带中的替换块替换所述第一块。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 重新 映射 存储器 子系统 中的 不良 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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