[发明专利]一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路有效
| 申请号： | 202210340615.3 | 申请日： | 2022-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN114675110B | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 林宜潘;邹高;刘勇 | 申请（专利权）人： | 深圳市利和兴股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G06F11/36;G06F16/25;H04B17/15;H04B17/29;H04B17/10 |
| 代理公司： | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人： | 田春龙 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区龙华街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了本发明提出一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路，包括：划分模块，用于获取目标射频设备的设备属性，并向设备属性匹配标准出厂状态下的设备构造，确定划分线对目标射频设备进行划分；测试方式分配模块，用于根据划分类结果，确定射频块，并基于射频块的块属性，分配对应的性能测试方式；性能测试模块，用于基于性能测试方式，完成对目标射频设备的性能检测。提高测试效率，保证测试的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 检测 射频 设备 性能 测试 平台 电路 | ||
【主权项】：
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