[发明专利]一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路

说明书

本发明提供了本发明提出一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路，包括：划分模块，用于获取目标射频设备的设备属性，并向设备属性匹配标准出厂状态下的设备构造，确定划分线对目标射频设备进行划分；测试方式分配模块，用于根据划分类结果，确定射频块，并基于射频块的块属性，分配对应的性能测试方式；性能测试模块，用于基于性能测试方式，完成对目标射频设备的性能检测。提高测试效率，保证测试的可靠性。

技术领域

本发明涉及射频检测技术领域，特别涉及一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路。

背景技术

目前，射频产品(待测射频设备)在生产及研发过程中都需要采用射频仪器进行射频性能的测试，但是，由于常用的射频仪器基本由几大仪器公司生产，由于生产射频仪器的类型及生产厂家都会有差异。

因此，在射频产品在生产完成后或者在使用一段时间后，一般会人为对射频设备进行测试，但是，人为测试往往会造成测试效率低下等的问题，导致不能有效的对射频设备的性能进行检测。

因此，本发明提出一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路。

发明内容

本发明提供一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路，用以解决上述提出的技术问题。

本发明提出一种用于检测射频设备性能的测试平台，包括：

划分模块，用于获取目标射频设备的设备属性，并向所述设备属性匹配标准出厂状态下的设备构造，确定划分线对所述目标射频设备进行划分；

测试方式分配模块，用于根据划分类结果，确定射频块，并基于所述射频块的块属性，分配对应的性能测试方式；

性能测试模块，用于基于所述性能测试方式，完成对目标射频设备的性能检测。

优选的，所述划分模块，包括：

属性获取单元，用于获取所述目标射频设备的设备属性，且所述设备属性与设备型号有关；

构造获取单元，用于基于所述设备型号，从预设设备数据库中，获取所述目标射频设备处于标注出厂状态下的制备流程，并基于所述制备流程确定设备构造；

划分线确定单元，用于在所述设备构造中设置划分点，并根据所述划分点，得到划分线；

设备划分单元，用于按照所述划分线，对所述目标射频设备进行结构划分。

优选的，所述构造获取单元，包括：

子流程确定子单元，用于基于获取的制备流程，确定对所述目标射频设备的若干子流程；

摘取子单元，用于按照每个子流程的子制备属性，从所述若干子流程中摘取独立子流程以及依赖子流程；

初始构造子单元，用于获取所述独立子流程的搭建顺序，获取第一搭建结构，并基于所有第一搭建结构得到初始构造；

待处理构造子单元，用于获取所述依赖子流程的搭建顺序，获取第二搭建结构，寻找所述第二搭建结构的依赖点，确定所述依赖点协同所述第二搭建结构基于初始构造的关联结构，得到待处理构造；

建立子单元，用于确定每个子流程在构造过程中的工艺信息，建立对应的工艺表；

可靠度确定子单元，用于基于所述工艺表中的行信息以及列信息，确定对应子流程的构造可靠度；

颜色筛选子单元，用于按照所述独立子流程的构造可靠度，从可靠度-颜色列表中，筛选第一颜色，同时，按照所述依赖子流程的构造可靠度，从可靠度-颜色列表中，筛选第二颜色；