[发明专利]一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路有效
| 申请号: | 202210340615.3 | 申请日: | 2022-03-31 |
| 公开(公告)号: | CN114675110B | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
| 发明(设计)人: | 林宜潘;邹高;刘勇 | 申请(专利权)人: | 深圳市利和兴股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G06F11/36;G06F16/25;H04B17/15;H04B17/29;H04B17/10 |
| 代理公司: | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人: | 田春龙 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市龙华区龙华街*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 检测 射频 设备 性能 测试 平台 电路 | ||
1.一种用于检测射频设备性能的测试平台,其特征在于,包括:
划分模块,用于获取目标射频设备的设备属性,并向所述设备属性匹配标准出厂状态下的设备构造,确定划分线对所述目标射频设备进行划分;
测试方式分配模块,用于根据划分结果,确定射频块,并基于所述射频块的块属性,分配对应的性能测试方式;
性能测试模块,用于基于所述性能测试方式,完成对目标射频设备的性能检测;
所述划分模块,包括:
属性获取单元,用于获取所述目标射频设备的设备属性,且所述设备属性与设备型号有关;
构造获取单元,用于基于所述设备型号,从预设设备数据库中,获取所述目标射频设备处于标准出厂状态下的制备流程,并基于所述制备流程确定设备构造;
划分线确定单元,用于在所述设备构造中设置划分点,并根据所述划分点,得到划分线;
设备划分单元,用于按照所述划分线,对所述目标射频设备进行结构划分;
所述构造获取单元,包括:
子流程确定子单元,用于基于获取的制备流程,确定对所述目标射频设备的若干子流程;
摘取子单元,用于按照每个子流程的子制备属性,从所述若干子流程中摘取独立子流程以及依赖子流程;
初始构造子单元,用于获取所述独立子流程的搭建顺序,获取第一搭建结构,并基于所有第一搭建结构得到初始构造;
待处理构造子单元,用于获取所述依赖子流程的搭建顺序,获取第二搭建结构,寻找所述第二搭建结构的依赖点,确定所述依赖点协同所述第二搭建结构基于初始构造的关联结构,得到待处理构造;
建立子单元,用于确定每个子流程在构造过程中的工艺信息,建立对应的工艺表;
可靠度确定子单元,用于基于所述工艺表中的行信息以及列信息,确定对应子流程的构造可靠度;
颜色筛选子单元,用于按照所述独立子流程的构造可靠度,从可靠度-颜色列表中,筛选第一颜色,同时,按照所述依赖子流程的构造可靠度,从可靠度-颜色列表中,筛选第二颜色;
显著性处理子单元,用于获取所述待处理构造基于不同子流程的外观区域,并基于所述第一颜色、第二颜色,对对应外观区域进行对应颜色显著性处理,获得处于标准出厂状态下的设备构造。
2.如权利要求1所述的用于检测射频设备性能的测试平台,其特征在于,所述划分线确定单元,包括:
标准点确定子单元,用于确定所述目标射频设备处于标准出厂状态下的标准划分点;
维修记录处理子单元,用于获取当下目标射频设备的历史维修记录,并从所述历史维修记录中提取与射频部件位置调整相关的第一维修信息以及与射频线路调整的第二维修信息;
向量构建子单元,用于基于所述第一维修信息,构建同个射频部件的位置更改向量;
更改确定子单元,用于基于第二维修信息,确定射频线路更改过程中的涉及到的更改部件以及更改功能;
一致处理子单元,用于将所述更改部件与更改功能进行一致处理,得到辅助更改向量;
颜色确定子单元,用于基于当下设备构造的颜色显著性处理结果与标准出厂状态下的颜色显著性处理结果的显著性差异,得到颜色差异向量;
调取子单元,用于从预设模型数据库中调取与所述目标射频设备相关的点确定模型,并基于所述点确定模型对所述位置更改向量、辅助更改向量、颜色差异向量进行预分析;
获取子单元,用于基于预分析结果,获取附加划分点以及更改划分点;
点位置确定子单元,用于确定所述更改划分点对应的初始点,并在所有标准划分点中将所述初始点剔除,替换为更改划分点,并确定所述附加划分点的点位置;
定位子单元,用于将所述点位置在替换后的划分点中进行扩展定位,并将对应的附加划分点定位在对应的点位置上,得到新的划分点;
线确定子单元,用于基于所述新的划分点,确定当下目标射频设备的划分层次,获得划分线。
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