[发明专利]缺陷检测方法、装置及系统在审
申请号: | 202210334568.1 | 申请日: | 2022-03-31 |
公开(公告)号: | CN114636705A | 公开(公告)日: | 2022-06-17 |
发明(设计)人: | 杨达坤;刘威;朱麟 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 牛亭亭 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请公开了一种缺陷检测方法、装置及系统,方法包括:获得第一图像,所述第一图像为图像采集设备对输出设备处于第一姿态的情况下所采集的图像;根据所述第一图像获得第二图像,所述第二图像为所述输出设备处于第二姿态的情况下对应的图像;其中,所述输出设备处于所述第一姿态的情况下对应的所述第一图像与处于所述第二姿态的情况下对应的所述第二图像中,所述输出设备的图像输出区域上目标缺陷的显示不同;基于所述第二图像中所述目标缺陷的显示获得所述输出设备的图像输出区域上的缺陷检测结果。 | ||
搜索关键词: | 缺陷 检测 方法 装置 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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