[发明专利]光学元件光轴与机械轴偏差测试系统、测试方法以及偏差修正方法在审
| 申请号： | 202210327013.4 | 申请日： | 2022-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN114739323A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 马冬梅;郭鑫垒;伊力奇;雷良艮;林俊豪 | 申请（专利权）人： | 长光卫星技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G01B11/02;G01C9/00;G01C25/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人： | 邓宇 |
| 地址： | 130000 吉林省长*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 光学元件光轴与机械轴偏差测试系统、测试方法以及偏差修正方法。涉及光学元件加工领域，解决了机械臂加工光学元件误差大的问题。将光学元件与高精度转台精密定位并夹紧；将光学元件光轴与干涉仪光轴调整至重合状态，记录角度初值；将光学元件转动180°，记录慧差量、倾斜量。将光学元件调整至慧差量为零状态，记录调整过程中角度变化量。根据上述步骤中慧差量、倾斜量以及夹角分析计算，获得光学元件光轴与机械轴的偏移量。以测试结果为依据采用机械臂夹持光学元件进行表面精密抛修。本发明可应用于光学加工阶段对光学元件的光轴与镜体机械轴偏差的精确测量和修正工作中，降低系统调试难度和集成耗时，实现高效装调。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 元件 光轴 机械 偏差 测试 系统 方法 以及 修正 | ||
【主权项】：
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