[发明专利]用于中子散射实验的高温炉气氛插件在审

专利信息
申请号: 202210315798.3 申请日: 2022-03-28
公开(公告)号: CN114764076A 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 袁宝;胡海韬;白波;童欣;柯于斌;何春勇;叶凡;黄志强 申请(专利权)人: 散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
主分类号: G01N23/20008 分类号: G01N23/20008;G01N23/20
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 廖金晖;彭家恩
地址: 523808 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种用于中子散射实验的高温炉气氛插件,包括:壳体,送样机构,进气机构,排气机构,抽真空连接组件,测压组件,以及测温组件;壳体的内部具有中空腔室;送样机构包括:样品杆以及储样组件,储样组件用于储放待测样品;进气机构包括:进气管路;排气机构包括:排气管路以及单向阀;抽真空连接组件的一端连通中空腔室,另一端用于外接抽真空设备;测压组件用于测量中空腔室的气压压强;测温组件用于测量中空腔室的温度。通过本气氛插件,可实现真空、惰性气体、低气压、快速降温、催化反应气体介质等多种实验条件下的中子散射实验的开展,以满足特殊实验条件的需要,助力材料科学的研究。
搜索关键词: 用于 中子 散射 实验 高温 气氛 插件
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