[发明专利]使用存储电荷损失裕度检查进行开放块管理在审
| 申请号： | 202210293194.3 | 申请日： | 2022-03-23 |
| 公开（公告）号： | CN115132255A | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | C·M·斯米奇赫盖尔;G·F·贝桑格;R·C·帕迪拉;T·欧帕斯特拉库恩;S·K·瑞特南;M·G·米勒;V·P·拉亚普鲁;A·马尔谢 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C16/16 | 分类号： | G11C16/16;G11C16/34;G11C16/30;G11C5/14;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 王龙 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请案涉及使用存储电荷损失裕度检查进行开放块管理。一种系统包含存储器装置；和处理装置，其以操作方式与所述存储器装置耦合以执行包括以下操作的操作：识别已在所述存储器装置的开放块上发生的存储电荷损失SCL的量，所述开放块具有一或多个经擦除页；确定所述SCL量满足与将在所述开放块上发生的可接受SCL量对应的阈值准则；和响应于确定所述SCL量满足所述阈值准则，使所述开放块保持开放以用于编程所述一或多个经擦除页。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 存储 电荷 损失 检查 进行 开放 管理 | ||
【主权项】：
暂无信息
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