[发明专利]一种聚合物晶体管沟道界面评估方法在审
| 申请号： | 202210268941.8 | 申请日： | 2022-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN114646856A | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 孙华斌;李润;丁彪彪;胡艳雨;徐勇;陈子龙;于志浩;吴洁 | 申请（专利权）人： | 南京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人： | 张玉红 |
| 地址： | 210023 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种聚合物晶体管沟道界面评估方法，基于总载流子浓度、自由载流子浓度和沟道界面陷阱密度的三项参数，通过与标样的对比来评估聚合物晶体管沟道界面的好坏，有助于更好地分析器件性能，为评价薄膜晶体管的结构、制备工艺、有源层和栅绝缘层材料等对器件电学性能的影响提供了理论指导，进一步地为后续搭建评估聚合物晶体管界面分析模型提供参考。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 聚合物 晶体管 沟道 界面 评估 方法 | ||
【主权项】：
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