[发明专利]一种程序缺陷数据特征提取方法、电子设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210239269.X 申请日: 2022-03-08
公开(公告)号: CN116775121A 公开(公告)日: 2023-09-19
发明(设计)人: 彭星海;薛志宏;程圣宇;曹继承;何美华;熊英飞;朱琪豪;肖元安 申请(专利权)人: 中兴通讯股份有限公司;北京大学
主分类号: G06F8/77 分类号: G06F8/77
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 梁国平
地址: 518057 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明实施例公开了一种程序缺陷数据特征提取方法、电子设备及存储介质,所述方法包括:获取程序代码的抽象语法树信息,其中,程序代码包括缺陷程序代码和补丁程序代码;对抽象语法树信息进行规范化处理,得到规范化信息;根据规范化信息,得到数据流信息;把规范化信息转化为序列信息;根据缺陷程序代码的序列信息和补丁程序代码的序列信息,得到程序补丁信息;根据数据流信息、序列信息和程序补丁信息,提取得到缺陷程序代码的缺陷数据特征。本发明实施例的方案能够提升程序缺陷数据特征提取的效率和精准性,保证后端任务的准确率,提高用户的使用体验。
搜索关键词: 一种 程序 缺陷 数据 特征 提取 方法 电子设备 存储 介质
【主权项】:
暂无信息
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