[发明专利]GaN基高电子迁移率晶体管、欧姆金属电极及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202210230849.2 申请日: 2022-03-09
公开(公告)号: CN114784096A 公开(公告)日: 2022-07-22
发明(设计)人: 刘明远;郑英奎;康玄武 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L29/207 分类号: H01L29/207;H01L29/45;H01L29/778;H01L21/263;H01L21/28;H01L21/335;H01L29/20
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 张晓玲
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种GaN基高电子迁移率晶体管及其制备方法,该晶体管的最顶层为氮化物层,本发明通过对该氮化物层表面进行等离子体处理,在其内部形成了氮空位,进而形成了重掺杂,从而降低了GaN基衬底与欧姆金属电极之间的欧姆接触电阻。本发明还涉及一种欧姆金属电极及其制备方法,该欧姆金属电极具有Ti/Al/Ti/Al/Ti/Al/Ni/Au层结构,能够增大Ti和Al的接触面积,Al在各层起到催化作用,使Ni与势垒层的反应更加充分,从而能够显著降低欧姆接触电阻。此外,本发明还涉及一种半导体结构及其制备方法。
搜索关键词: gan 电子 迁移率 晶体管 欧姆 金属电极 及其 制备 方法
【主权项】:
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