[发明专利]电压微调电路、存储器装置和该存储器装置的测试方法在审
| 申请号： | 202210205043.8 | 申请日： | 2022-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN115019868A | 公开（公告）日： | 2022-09-06 |
| 发明（设计）人： | 崔民淏;林栽成;金经纶;金大贤;裴元一;辛昊炫;郑尚勋;黄炯烈 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/02 | 分类号： | G11C29/02 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 赵南;肖学蕊 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种电压微调电路、存储器装置和存储器装置的测试方法。该电压微调电路包括：第一电阻电路，其具有由上升码和下降码确定的第一电阻值；第二电阻电路，其具有由上升码和下降码确定的第二电阻值；以及比较器，其被配置为通过将参考电压微调节点的电压电平与反馈节点的电压电平进行比较来输出电压检测信号，其中，当参考电压微调节点的电压电平高于反馈节点的电压电平时，电压检测信号调整上升码和下降码，以增大第一电阻值并且减小第二电阻值，并且当参考电压微调节点的电压电平低于或等于反馈节点的电压电平时，电压检测信号调整上升码和下降码，以减小第一电阻值并且增大第二电阻值。 | ||
| 搜索关键词： | 电压 微调 电路 存储器 装置 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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