[发明专利]一种基于微波致热的缺陷深度信息提取方法在审
| 申请号： | 202210171651.1 | 申请日： | 2022-02-24 |
| 公开（公告）号： | CN114609189A | 公开（公告）日： | 2022-06-10 |
| 发明（设计）人： | 郑虎;蔡林宏;李吉;涂一航;龙嘉威;李恩 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72;G01N1/44;G01J5/48;G01J5/00;G01B15/00 |
| 代理公司： | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人： | 曾磊 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供一种基于微波致热的缺陷深度信息提取方法，属于红外无损检测技术领域。该方法通过对材料进行微波加热，在恒定输出功率下，材料达到了温度平衡后，对材料进行红外温度检测；然后通过已知的材料电磁参数、输出功率，结合电磁波的多层反射理论，完成对缺陷深度信息的提取。本方法对缺陷深度信息检测更为精确，同时具有检测方式简便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 微波 缺陷 深度 信息 提取 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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