[发明专利]芯片的不良品筛选方法、装置、终端及服务器有效
| 申请号： | 202210143243.5 | 申请日： | 2022-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN114632710B | 公开（公告）日： | 2023-01-13 |
| 发明（设计）人： | 王英广;栗伟斌;李安平 | 申请（专利权）人： | 深圳米飞泰克科技股份有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/34;B07C5/344;B07C5/36;H01L21/67 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 张禹 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区宝龙*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请适用于芯片封装测试技术领域，提供了一种芯片的不良品筛选方法、装置、终端及服务器，所述不良品筛选方法包括：获取芯片载体对应的标识信息；根据所述芯片载体对应的标识信息，从服务器中获取所述芯片载体对应的目标测试信息，所述目标测试信息包括所述N个待封装芯片分别在所述芯片载体上的坐标，以及所述N个待封装芯片分别对应的第一测试结果；根据目标坐标，向激光打标机发送不合格指令，所述不合格指令用于指示所述激光打标机对所述目标坐标处的待封装芯片进行不良品标记。上述方案通过记录芯片封装过程中目标工序的测试结果，对不良品进行标记，可以在芯片成品测试前将芯片中的不良品筛选出来，提高芯片的良品率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 不良 筛选 方法 装置 终端 服务器 | ||
【主权项】：
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