[发明专利]一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法在审

专利信息
申请号: 202210138325.0 申请日: 2022-02-15
公开(公告)号: CN114527370A 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 李顺东 申请(专利权)人: 上海御渡半导体科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 陶金龙;吴世华
地址: 201306 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法,该方法包括在启动测试前,按照Pin文件的语法格式,连接N块待测芯片(SITE1、SITE2…SITEi…SITEN)和管脚Pin的硬件资源,并将连接关系写入Pin文件;按照Level文件的语法格式,将客户的测试需求和指标写入Level文件,并将Pin文件和Level文件发送到下位机;在测试启动后,第一解析模块在解析Pin文件后将其动态加载到测试程序,第二解析模块在解析Level文件后将其动态加载到测试程序,并通过测试程序控制机台来执行测试。因此,本发明使测试程序无需重新编译链接即可对更改后的测试条件生效,且用户在阅读和编写测试条件时易于理解,提高了整体的测试速度和效率。
搜索关键词: 一种 基于 动态 配置 参数 ate 测试 装置 及其 方法
【主权项】:
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