[发明专利]一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法在审
| 申请号: | 202210138325.0 | 申请日: | 2022-02-15 |
| 公开(公告)号: | CN114527370A | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
| 发明(设计)人: | 李顺东 | 申请(专利权)人: | 上海御渡半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 | 代理人: | 陶金龙;吴世华 |
| 地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: |
一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法,该方法包括在启动测试前,按照Pin文件的语法格式,连接N块待测芯片(SITE |
||
| 搜索关键词: | 一种 基于 动态 配置 参数 ate 测试 装置 及其 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海御渡半导体科技有限公司,未经上海御渡半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210138325.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:端射天线及电子设备
- 下一篇:一种提升ATE芯片测试速度的装置和方法





