[发明专利]一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种基于动态配置参数的ATE测试装置，其特征在于，包括：

上位机包括Pin文件配置模块、Level文件配置模块以及将配置好的Pin文件和Level文件通过发送模块发送到下位机；

所述Pin文件的语法结构包括三部分：PinDefs、PinGroup以及PinAlias；整体的语法格式概括为：Identifier{Statements}，Identifier表示标识符，Statements表示语句；

其中，PinDefs用于定义硬件资源的连接关系；语法格式即Identifier为PinDefs，Statements则包含了PINDEFINE_BEGIN、PINDEFINE_END以及中间模块；

PinGroup用于定义一组Pin；从语法结构来看，Identifier为PinGroup，Statements则为赋值语句，它支持加减运算的表示形式；

PinAlias用于定义Pin的别名,语法格式Identifier为PinAlias，Statements为赋值语句；

Level文件的语法格式为：Levels Identifier{Statements}；其中，Levels为Level文件的关键字，Identifier为标识符，Statements表示语句；

所述下位机包括测试程序、第一解析模块和第二解析模块；所述第一解析模块在解析Pin文件后将其动态加载到所述测试程序，所述第二解析模块在解析Level文件后将其动态加载到所述测试程序，并过测试程序控制机台来执行测试。

2.根据权利要求1所述的基于动态配置参数的ATE测试装置，其特征在于，PINDEFINE_BEGIN和PINDEFINE_END分别为第一条语句(Statement)和最后一条语句(Statement)，表示所述Pin文件定义的开始和结束，中间模块整体结构从左往右每个字段分别为Pin的名称(Pin_Name)、资源类型(ResourceType)以及N个待测芯片(SITE₁、SITE₂…SITE_i…SITE_N)。

3.根据权利要求2所述的基于动态配置参数的ATE测试装置，其特征在于，每个所述待测芯片的参数包括卡槽号(SlotNo)和通道号(ChannelNo)。

4.一种基于动态配置参数的ATE测试方法，其采用权利要求1-3任意一个所述的基于动态配置参数的ATE测试装置，其特征在于，包括：

步骤S1：在启动测试前，上位机按照Pin文件的语法格式，连接所述待测芯片(SITE₁、SITE₂…SITE_i…SITE_N)和管脚Pin的硬件资源，并将连接关系写入Pin文件；按照Level文件的语法格式，将客户的测试需求和指标写入所述Level文件；

所述Pin文件的语法结构包括三部分：PinDefs、PinGroup以及PinAlias；整体的语法格式概括为：Identifier{Statements}，Identifier表示标识符，Statements表示语句；

其中，PinDefs用于定义硬件资源的连接关系；语法格式即Identifier为PinDefs，Statements则包含了PINDEFINE_BEGIN、PINDEFINE_END以及中间模块；

PinGroup用于定义一组Pin；从语法结构来看，Identifier为PinGroup，Statements则为赋值语句，它支持加减运算的表示形式；

PinAlias用于定义Pin的别名,语法格式Identifier为PinAlias，Statements为赋值语句；

Level文件的语法格式为：Levels Identifier{Statements}；其中，Levels为Level文件的关键字，Identifier为标识符，Statements表示语句；

步骤S2：将所述Level文件和Pin文件发送到下位机；

步骤S3：在测试启动后，所述第一解析模块在解析Pin文件后将其动态加载到所述测试程序，所述第二解析模块在解析Level文件后将其动态加载到所述测试程序，并过测试程序控制机台来执行测试。