[发明专利]一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法

说明书

一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法，该方法包括在启动测试前，按照Pin文件的语法格式，连接N块待测芯片(SITE₁、SITE₂…SITE_i…SITE_N)和管脚Pin的硬件资源，并将连接关系写入Pin文件；按照Level文件的语法格式，将客户的测试需求和指标写入Level文件，并将Pin文件和Level文件发送到下位机；在测试启动后，第一解析模块在解析Pin文件后将其动态加载到测试程序，第二解析模块在解析Level文件后将其动态加载到测试程序，并通过测试程序控制机台来执行测试。因此，本发明使测试程序无需重新编译链接即可对更改后的测试条件生效，且用户在阅读和编写测试条件时易于理解，提高了整体的测试速度和效率。

技术领域

本发明涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment，简称ATE)领域，尤其涉及一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法。

背景技术

在半导体行业，元器件的生产和制造都会伴随着各种测试的需求，其中，芯片测试在整个产业链当中占有极其重要的地位。通常，芯片测试的整个流程会涉及到测试设备，这类设备统称为自动化测试设备。

自动化测试设备是一种由高性能计算机控制的测试系统，可以通过运行测试程序的指令来控制测试硬件，用于检测集成电路功能和性能的完整性以确保元器件的良品率。

然而，随着集成电路设计复杂度的提高，其测试复杂度也随之增加，大规模集成电路往往会要求几百次的电压、电流和时序的测试以及百万次的功能测试步骤以保证器件的完全正确。这也使得芯片的测试成本越来越高，占据了芯片成本的大部分比例。

因此，除了要保证测试系统本身的可靠性和稳定性，如何提升芯片测试的速度和效率也变得尤为重要，是整个半导体测试机行业的共同课题。

目前，行业内通用的方案是，通过对自动化测试设备编写测试程序(TestProgram)，来控制整个芯片测试的流程。而且，考虑到性能和效率等因素，通常会采用更接近底层硬件的编译型语言(C/C++)进行测试程序的开发。

由于测试条件(例如硬件资源、端口号、输入激励和信号大小等)的调试需要对测试程序不断的修改，但编译型语言的特性又导致测试程序一旦被修改，整个测试就需要经过重新编译、链接、执行等步骤才可以对更改后的测试条件生效，这就使得整体的调试效率变得低下，开发周期冗长。

鉴于此，为了能够动态的修改测试条件，一些公司会将测试条件以json或xml的格式编写进配置文件中，在程序运行时只需读取配置文件中的信息，修改的测试条件就能及时生效，而无须修改测试程序本身，以此提高测试的效率。然而，json或xml等数据格式易于解析和传输，但对于用户来说可读性非常糟糕，并且语法格式过于繁杂，不易于理解测试条件相互之间的关系，难以维护。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种应用于ATE测试的参数配置方法，其适用于芯片测试可读性高的配置文件的语法格式，不仅能够将调试时需要修改的测试条件动态的动态加载到测试程序中执行，使得测试程序无需重新编译链接即可对更改后的测试条件生效，也可以让用户在阅读和编写测试条件时易于理解，提高整体的测试速度和效率。

为实现上述目的，本发明的技术方案如下：

一种基于动态配置参数的ATE测试装置，其包括：

上位机包括Pin文件配置模块、Level文件配置模块以及将配置好的Pin文件和Level文件通过发送模块发送到下位机；

所述Pin文件的语法结构包括三部分：PinDefs、PinGroup以及PinAlias；整体的语法格式概括为：Identifier{Statements}，Identifier表示标识符，Statements表示语句；