[发明专利]非易失存储器的可靠性测试方法及装置在审
| 申请号： | 202210102045.4 | 申请日： | 2022-01-27 |
| 公开（公告）号： | CN114550802A | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 谢元禄;季兰龙;呼红阳;霍长兴;张坤;习凯;卢年端 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/56;G11C16/14 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 王玉璇 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了非易失存储器的可靠性测试方法及装置，涉及非易失存储器技术领域。本发明反复循环擦除、编程、读取非易失存储器的指定地址，在每次擦除后记录当次的擦除时间，在每次编程后记录当次的编程时间，若某次循环中非易失存储器出错，则将最近一次记录的擦除时间和编程时间反馈给上位机，非易失存储器出错时向上位机反馈的最近一次记录的擦除时间便是非易失存储器的擦除时间最大值、最近一次记录的编程时间便是非易失存储器的编程时间最大值，实现了对非易失存储器可靠性的摸底测试。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失 存储器 可靠性 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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