[发明专利]测量方法及系统、设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202210074803.6 申请日: 2022-01-21
公开(公告)号: CN116524171A 公开(公告)日: 2023-08-01
发明(设计)人: 陈鲁;王紫媛;吕肃;黄有为;张嵩 申请(专利权)人: 深圳中科飞测科技股份有限公司
主分类号: G06V10/24 分类号: G06V10/24;G06V10/25;G06V10/74
代理公司: 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 代理人: 吴凡
地址: 518109 广东省深圳市龙华区大浪街*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种测量方法及系统、设备和存储介质,方法包括:获取待测标记的检测图像和模板图像,模板图像中具有检测范围,模板图像包括第一感兴趣区域相对于检测范围的预设位置关系;利用模板图像对检测图像进行感兴趣区域定位处理,感兴趣区域定位处理包括:将检测图像与检测范围内的模板图像进行匹配处理,在检测图像中获取与检测范围内的模板图像具有最大相似度的区域作为匹配区域,匹配区域的检测图像作为匹配图像;根据模板图像中第一感兴趣区域相对于检测范围的预设位置关系,在检测图像中确定第二感兴趣区域,第二感兴趣区域内的检测图像作为感兴趣图像。本发明有利于提高对待测标记的定位精度。
搜索关键词: 测量方法 系统 设备 存储 介质
【主权项】:
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