[发明专利]一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法在审
| 申请号： | 202210073984.0 | 申请日： | 2022-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN114461472A | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 樊石;秦泰;秦信刚;程振洪 | 申请（专利权）人： | 中国船舶重工集团公司第七0九研究所 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 武汉华之喻知识产权代理有限公司 42267 | 代理人： | 王世芳;梁鹏 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于ATE的GPU核心全速功能测试方法，涉及GPU芯片研发与测试领域。首先，ATE通过模式选择接口将GPU芯片置于GPU核心全速功能测试模式，然后，ATE通过控制接口对GPU芯片内部的时钟电路进行配置，再接着，ATE通过数据接口及专用数据通路，将测试数据装载至GPU芯片的内部测试存储器，进一步，ATE通过控制接口启动GPU核心，使其读取测试数据进行计算并将结果写回至GPU芯片的内部测试存储器，最后，ATE通过控制接口查询GPU核心的工作状态，在其工作状态为空闲时，从GPU芯片的内部测试存储器中将测试结果读出并与标准结果进行比对。本发明具有快速灵活、成本低，可广泛应用于GPU芯片的研发与测试领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 ate gpu 核心 全速 功能 测试 方法 | ||
【主权项】：
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