[发明专利]一种闪存校验方法、装置、计算机设备和存储介质在审
| 申请号： | 202210071239.2 | 申请日： | 2022-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN114093409A | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 王敏;张闯;黄广奎 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42;G11C29/10 |
| 代理公司： | 北京市万慧达律师事务所 11111 | 代理人： | 陈晓磊 |
| 地址： | 215168 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种闪存校验方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：对闪存进行校验，获取所述闪存中存储页的错误数据，并根据所述错误数据确定所述存储页中的错误比特数；将所述错误比特数与预设的校验阈值进行对比，获取第一存储页和第二存储页；将所述第一存储页与所述第二存储页的错误比特数分别与预设的数量区间进行对应，采集各个所述数量区间中所述存储页的数量，获取所述闪存的校验结果；通过所述校验结果确定所述闪存中坏点的存储页，以及确定坏点的所述存储页对应的所述存储块。采用本方法能够增强校验数据的可靠性，确定有坏点的存储块，清晰直观地对错误数据进行分析，对闪存的健壮性的提高和寿命预估具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 校验 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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