[发明专利]一种闪存校验方法、装置、计算机设备和存储介质

说明书

本申请涉及一种闪存校验方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：对闪存进行校验，获取所述闪存中存储页的错误数据，并根据所述错误数据确定所述存储页中的错误比特数；将所述错误比特数与预设的校验阈值进行对比，获取第一存储页和第二存储页；将所述第一存储页与所述第二存储页的错误比特数分别与预设的数量区间进行对应，采集各个所述数量区间中所述存储页的数量，获取所述闪存的校验结果；通过所述校验结果确定所述闪存中坏点的存储页，以及确定坏点的所述存储页对应的所述存储块。采用本方法能够增强校验数据的可靠性，确定有坏点的存储块，清晰直观地对错误数据进行分析，对闪存的健壮性的提高和寿命预估具有重要意义。

技术领域

本申请涉及硬件测试技术领域，特别是涉及一种闪存校验方法、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

闪存是一种目前广泛应用于各种存储场合的非易失性存储器，由存储块（block）构成，存储块由存储页（page）组成，功能是数据的存储，在闪存的使用过程中，会产生错误，每一次读写都会减少自身的寿命。block在使用过一段时间后，保存电荷的能力会削弱，导致其存储的数据出错，此时芯片的数据保留错误和读干扰情况也越来越严重，进而出现有坏点的存储块，影响闪存数据存储的可靠性。

当前常用的错误纠正方法有奇偶校验法、ECC（Error Checking and Correcting，错误检查和纠正）校验法，其中，奇偶校验法的主要功能是发现错误，而且当数据量非常大时，数据出错的几率也就越大；ECC校验法在测试过程中，由于数据会经常发生变动，连续两次校验数据后，得到的ECC分布也可能会有差别，可靠性差。

发明内容

基于此，有必要针对准确有效地分析和纠正闪存错误的技术问题，提供一种能够分析闪存信息和纠正闪存错误的存储设备校验方法、装置、计算机设备和存储介质。

一方面，提供一种闪存校验方法，所述方法包括：

根据闪存数据的校验位对闪存进行校验，获取所述闪存中存储页的错误数据，并根据所述错误数据确定所述存储页中的错误比特数；

将所述错误比特数与预设的校验阈值进行对比，获取第一存储页和第二存储页，其中，所述第一存储页包括小于或等于所述校验阈值的错误比特数，所述第二存储页包括大于所述校验阈值的错误比特数；

将所述第一存储页与所述第二存储页的错误比特数分别与预设的数量区间进行对应，采集各个所述数量区间中所述存储页的数量，获取所述闪存的校验结果；

通过所述校验结果确定所述闪存中坏点的存储页，以及确定坏点的所述存储页对应的所述存储块。

在其中一个实施例中，还包括：

对所述第二存储页进行N次校验，N为正整数，将所述错误比特数与所述校验阈值进行对比，

若完成M次校验后，所述错误比特数小于或等于所述校验阈值，则停止校验，其中，M为正整数，0＜M≤N；

若完成N次校验后，所述错误比特数大于所述校验阈值，则判定所述第二存储页存在坏点。

在其中一个实施例中，还包括：

将采集到的所述存储页与所述数量区间对应，在各个所述数量区间中，分别对所述存储页的数量进行累加，得到各个所述数量区间的统计值。

在其中一个实施例中，还包括：

对所述存储块中的统计值进行验证，所述存储块中的统计值满足的数学表达为：

其中，每个所述存储块有B个所述存储页，第i个所述存储块的第j个所述存储页的所述错误比特数为，设置P个所述数量区间，且1≤P，检查 对应的所述数量区间，若处于所述数量区间k，则所述数量区间k的统计值为。

在其中一个实施例中，还包括：

对所述闪存中的统计值进行验证，所述闪存中的统计值满足的数学表达为：