[发明专利]基于贝塞尔函数分段积分的集成电路电磁仿真方法及系统有效
| 申请号： | 202210052753.1 | 申请日： | 2022-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN114417769B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 王芬 | 申请（专利权）人： | 北京智芯仿真科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/39 | 分类号： | G06F30/39;G06F111/10 |
| 代理公司： | 北京星通盈泰知识产权代理有限公司 11952 | 代理人： | 李筱 |
| 地址： | 100084 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了基于贝塞尔函数分段积分的集成电路电磁仿真方法及系统，该方法先基于零点对积分区间进行初始分段，并对每两个零点之间的初始子区间进行数值积分并进行积分累加，得到初始的贝塞尔函数积分值，之后在每两个零点的中间位置增设分段点并进行区间细分，对包括零点的当前分段点中每两个点之间的细分子区间进行数值积分并进行积分累加，得到积分区间在当前细分情况下的贝塞尔函数积分值，然后判断其与前一次累加得到的积分之间的误差是否小于预设的第一误差精度，若是则将当前的积分值作为积分结果，否则在每两个相邻的当前分段点中间位置增设新分段点并重新进行数值积分和积分累加，直到满足第一误差精度。该方法降低了积分的时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 贝塞尔 函数 分段 积分 集成电路 电磁 仿真 方法 系统 | ||
【主权项】：
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