[发明专利]一种透射式空间光调制器相位和振幅调制特性的测量方法在审
| 申请号： | 202210030463.7 | 申请日： | 2022-01-12 |
| 公开（公告）号： | CN114354140A | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 高星;夏高飞;武耀霞;王华 | 申请（专利权）人： | 西安中科微星光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 孟洁 |
| 地址： | 710000 陕西省西安市高新区毕原*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 一种透射式空间光调制器相位和振幅调制特性的测量方法，包括如下步骤：S1、搭建光路，使激光通过双缝分别与空间光调制器不同区域调制；S2、通过图像采集双缝干涉光路，提取得到干涉条纹曲线；S3、采用相位模型转换计算出灰度相位曲线；S4、通过计算图像对比度，得到分别通过双缝间的光强差异，得到振幅调制效果；本发明无需其他光学器件，利用激光和CCD，在调制器上加载双缝图案即可测得对应的相位与振幅调制特性，此方式相较于利用反射镜生成参考波来干涉的方式，最大特点在于不需要参考波，利用双缝干涉完成相位和振幅的标定。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 透射 空间 调制器 相位 振幅 调制 特性 测量方法 | ||
【主权项】：
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