[发明专利]液晶移相器移相灰度曲线测试装置及方法有效
| 申请号： | 202210023938.X | 申请日： | 2022-01-10 |
| 公开（公告）号： | CN114326182B | 公开（公告）日： | 2022-12-20 |
| 发明（设计）人： | 修威;田海燕;杨光;吴迪;任董瑞 | 申请（专利权）人： | 北京华镁钛科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京华清迪源知识产权代理有限公司 11577 | 代理人： | 郑兴旺 |
| 地址： | 100194 北京市海淀区永丰产业*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种液晶移相器移相灰度曲线测试装置及方法，包括耦合探测结构和液晶盒，耦合探测结构包括接地探针引脚、耦合探测接地片、信号探针引脚和耦合探测辐射片，耦合探测辐射片设置在耦合探测接地片中间，接地探针引脚与耦合探测接地片连接，信号探针引脚与耦合探测辐射片连接，液晶盒设有耦合缝隙和对位标识；本发明采用可移动式耦合探测结构，实现所有或大部分液晶移相器频率响应及移相灰度测试，通过对比分析及计算，筛选出两个或以上频率的移相灰度测试结果，并计算出工作频带内任意频点的移相灰度测试结果，实现了液晶移相器高效产业化测试及计算。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 移相器 灰度 曲线 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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