[发明专利]一种集成电路良率估计方法及存储器在审
| 申请号： | 202210006053.9 | 申请日： | 2022-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN114330188A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 陈光;赵文鹏;范文妍;陈全;鲍琛;白耿 | 申请（专利权）人： | 深圳国微福芯技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/337 | 分类号： | G06F30/337 |
| 代理公司： | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人： | 陈贤荣 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福田区福保街道福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种集成电路良率估计方法及存储器，所述方法包括：将划分集成电路性能成功区域和失败区域的边界在参数空间公式化，表示为边界面公式化方程；计算所述边界面公式化方程和各个参数轴形成的边界面限定出的空间大小；计算所述边界面公式化方程和各个参数轴形成的边界面限定出的空间大小与各个参数范围形成的空间大小之比，得到估算的良率。采用本发明的技术方案，可以提高集成电路良率的估计效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 估计 方法 存储器 | ||
【主权项】：
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