[发明专利]一种双工作台光学散射测量系统

摘要

本发明属于光学测量技术领域，公开了一种双工作台光学散射测量系统，包括从内向外依次同心设置的样品转台、内转台和外转台；样品转台用于放置待测样品，内转台上安装有光源组件和对准装置，光源组件包括光源支架和激光源，激光源安装在光源支架上，对准装置设置在激光源的光路上，用于对待测样品的入射光线进行对准调整；外转台上安装有检测组件，检测组件包括检测装置支架和探测器，探测器安装在检测装置支架上，检测组件用于对待测样品进行测量；样品转台、内转台和外转台分别按照预设的旋转角度进行转动，以调整待测样品的入射光线的入射角和测量角，并调节入射光线的对准角度。本发明可以同时实现光线对准和测量。