[发明专利]计测系统、检查系统、计测装置、计测方法、检查方法以及程序在审
| 申请号： | 202180087844.2 | 申请日： | 2021-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN116745575A | 公开（公告）日： | 2023-09-12 |
| 发明（设计）人： | 大西贵子;西贵行;藤井心平;笠原启雅;狩田裕史;森弘之 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 方冬梅;邓毅 |
| 地址： | 日本国京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 一种计测系统，其具有：第1特征点数据生成单元，其根据包含计测对象物的规定部位进行拍摄得到的第1图像数据或基于该第1图像数据生成的第1形状数据生成第1特征点数据；第2特征点数据生成单元，其根据不同于所述第1图像数据的第2图像数据或第2形状数据生成第2特征点数据；以及计算单元，其基于所述第1特征点数据和所述第2特征点数据，计算所述第1图像数据与所述第2图像数据或者所述第1形状数据与所述第2形状数据中的所述计测对象的所述规定部位的位置的对应关系。 | ||
| 搜索关键词： | 系统 检查 装置 方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
暂无信息
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