[发明专利]用于记录样本中单个粒子的轨迹的方法和显微镜在审
| 申请号： | 202180086205.4 | 申请日： | 2021-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN116670492A | 公开（公告）日： | 2023-08-29 |
| 发明（设计）人： | B·哈尔克;L·卡斯特鲁普;C·武尔姆 | 申请（专利权）人： | 阿贝锐纳仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/10 | 分类号： | G01N15/10 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 陆建萍;杨明钊 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种记录样本中单个粒子的运动轨迹的方法和执行该方法的光学显微镜。从至少近似已知的起始位置开始，用扫描光的具有局部强度最小值的强度分布来扫描粒子。当用扫描光照射时，待跟踪的粒子产生可探测的光信号，根据光信号的强度计算出粒子的更新坐标。根据本发明，当并行探测的第二测量变量满足中止标准时，终止扫描。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 记录 样本 单个 粒子 轨迹 方法 显微镜 | ||
【主权项】：
暂无信息
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