[发明专利]测量系统、测量装置、测量方法以及测量程序在审

专利信息
申请号: 202180073083.5 申请日: 2021-09-14
公开(公告)号: CN116419829A 公开(公告)日: 2023-07-11
发明(设计)人: 付星斗 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社
主分类号: B25J13/08 分类号: B25J13/08
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 赵雨桐
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能够缩短测量对象物的3D数据所需的时间的测量系统等。测量系统具备:3D传感器,搭载于机器人,且测量表示对象物的表面各点的三维坐标的3D数据;位移检测装置,检测机器人的各关节的位移;驱动装置,驱动机器人的各关节;传感器控制部,以在一个或多个测量点测量对象物的3D数据的方式控制3D传感器;合成部,将在通过机器人对对象物进行第一操作之前测量出的对象物的3D数据、与在通过机器人对对象物进行了第一操作之后在一个或多个测量点测量出的对象物的3D数据进行3D合成;以及机器人控制部,根据由通过3D合成而得到的3D数据表示的对象物的表面各点的三维坐标,向驱动装置输出控制机器人的第二操作的驱动指令。
搜索关键词: 测量 系统 装置 测量方法 以及 程序
【主权项】:
暂无信息
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