[发明专利]检测装置在审
| 申请号： | 202180053360.6 | 申请日： | 2021-08-18 |
| 公开（公告）号： | CN116018819A | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 池田匡孝 | 申请（专利权）人： | 株式会社日本显示器 |
| 主分类号： | H04N25/78 | 分类号： | H04N25/78 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 吕文卓 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 检测装置具有将光电变换元件连接在第1晶体管的栅极电极上的像素；具有将第1晶体管的栅极电极复位的复位期间、将光电变换元件曝光的曝光期间和将伴随着光电变换元件的曝光的电压读出的读出期间；在复位期间中，在对第1晶体管的栅极电极供给复位电压的第1期间中将第1电压读出，在对第1晶体管的栅极电极停止复位电压的供给后的第2期间中将第2电压读出，在作为曝光期间的第3期间之后作为上述读出期间的第4期间中将第3电压读出；将第1电压与第2电压的差作为PUF－ID数据输出；将第3电压与第2电压的差作为检测数据输出。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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