[发明专利]检测装置

说明书

检测装置具有将光电变换元件连接在第1晶体管的栅极电极上的像素；具有将第1晶体管的栅极电极复位的复位期间、将光电变换元件曝光的曝光期间和将伴随着光电变换元件的曝光的电压读出的读出期间；在复位期间中，在对第1晶体管的栅极电极供给复位电压的第1期间中将第1电压读出，在对第1晶体管的栅极电极停止复位电压的供给后的第2期间中将第2电压读出，在作为曝光期间的第3期间之后作为上述读出期间的第4期间中将第3电压读出；将第1电压与第2电压的差作为PUF－ID数据输出；将第3电压与第2电压的差作为检测数据输出。

技术领域

本发明涉及检测装置及检测装置的驱动方法。

背景技术

近年来，关于具有半导体集成电路的电子部件、具备上述电子部件的电子设备、或使用它们的系统，仿制品、盗版或伪造品成为问题。例如，为了防止上述电子部件、上述电子设备或使用它们的系统的仿制品、盗版或伪造品的制造，采用利用秘钥的加密技术是针对这些问题的对策之一。

此外，作为针对这些问题的其他对策，在专利文献1及专利文献2中公开了能够生成利用了PUF(Physical Unclonable Function)的摄像数据的固体摄像装置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2019－180003号公报

专利文献2：国际公开第2016/167076号

发明内容

发明要解决的课题

本发明的课题之一在于，为了抑制仿制品、盗版或伪造品的制造，提供能够生成利用了PUF的摄像数据的检测装置。

用来解决课题的手段

检测装置具有将光电变换元件的第1电极连接到在电源线与读出信号线之间连接的第1晶体管的栅极电极上的至少1个像素；具有：复位期间，将第1晶体管的栅极电极复位；曝光期间，将光电变换元件曝光；以及读出期间，将伴随着光电变换元件的曝光的电压读出；在复位期间中，在对第1晶体管的栅极电极供给复位电压的第1期间中，从读出信号线读出第1电压；在对第1晶体管的栅极电极停止复位电压的供给后的第2期间中，从读出信号线读出第2电压；在作为曝光期间的第3期间后，在作为上述读出期间的第4期间中，从读出信号线将第3电压读出；将第1电压与第2电压的差作为PUF－ID数据输出；将第3电压与第2电压的差作为检测数据输出。

附图说明

图1是表示本发明的一实施方式的检测装置的结构的平面图。

图2是表示本发明的一实施方式的检测装置的结构的平面图。

图3是表示本发明的一实施方式的像素电路的电路图。

图4是表示本发明的一实施方式的检测装置的驱动方法的时间图。

图5是表示图4所示的定时下的像素的动作状态的示意性的图。

图6是表示图4所示的定时下的像素的动作状态的示意性的图。

图7是表示图4所示的定时下的像素的动作状态的示意性的图。

图8是表示图4所示的定时下的像素的动作状态的示意性的图。

图9是表示本发明的一实施方式的检测装置的结构的平面图。

图10是表示本发明的一实施方式的像素电路的电路图。

图11是表示本发明的一实施方式的检测装置的驱动方法的时间图。

图12是表示图11所示的定时下的像素的动作状态的示意性的图。

图13是表示图11所示的定时下的像素的动作状态的示意性的图。