[发明专利]检测装置在审

专利信息
申请号: 202180053360.6 申请日: 2021-08-18
公开(公告)号: CN116018819A 公开(公告)日: 2023-04-25
发明(设计)人: 池田匡孝 申请(专利权)人: 株式会社日本显示器
主分类号: H04N25/78 分类号: H04N25/78
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 吕文卓
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种检测装置,其特征在于,

具有将光电变换元件的第1电极连接到在电源线与读出信号线之间连接的第1晶体管的栅极电极上的至少1个像素;

具有:

复位期间,将上述第1晶体管的栅极电极复位;

曝光期间,将上述光电变换元件曝光;以及

读出期间,将伴随着上述光电变换元件的曝光的电压读出;

在上述复位期间中,

在对上述第1晶体管的栅极电极供给复位电压的第1期间中,从上述读出信号线读出第1电压;

在对上述第1晶体管的栅极电极停止了复位电压的供给后的第2期间中,从上述读出信号线读出第2电压;

在作为上述曝光期间的第3期间之后,在作为上述读出期间的第4期间中,从上述读出信号线将第3电压读出;

将上述第1电压与上述第2电压的差作为PUF-ID数据进行输出;

将上述第3电压与上述第2电压的差作为检测数据进行输出。

2.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,

具有包括上述至少1个像素的多个像素;

在上述多个像素的各自中进行上述第1电压、上述第2电压及上述第3电压的读出。

3.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,

具有连接在复位电压线与上述第1晶体管的栅极电极之间的第2晶体管;

将上述第2晶体管设为接通状态;

从上述复位电压线对上述第1晶体管的栅极电极供给上述复位电压。

4.如权利要求3所述的检测装置,其特征在于,

具有连接在上述第1晶体管的一对电极中的不连接上述电源线的电极与上述读出信号线之间的第3晶体管;

将上述第3晶体管设为接通状态;

进行上述第1电压、上述第2电压及上述第3电压的读出。

5.如权利要求4所述的检测装置,其特征在于,

具有连接在上述读出信号线与基准电位线之间的第4晶体管;

对上述第4晶体管的栅极电极供给偏置电压;

将上述第4晶体管设为接通状态;

使定电流在上述第4晶体管的一对电极间流动。

6.如权利要求5所述的检测装置,其特征在于,

上述第1晶体管、上述第3晶体管和上述第4晶体管构成源极跟随器;

将上述第1晶体管、上述第3晶体管和上述第4晶体管设为接通状态;

使电流在上述电源线与上述读出信号线之间流动。

7.如权利要求6所述的检测装置,其特征在于,

具有连接在上述第1晶体管的栅极电极与上述光电变换元件的第1电极之间的第5晶体管;

在上述第3期间中,

将上述第5晶体管设为接通状态;

将通过上述光电变换元件的曝光而生成的电压向上述第1晶体管的栅极电极供给。

8.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,

上述第1电压与上述第2电压的差是馈通电压。

9.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,

在生成上述PUF-ID数据之后,生成上述检测数据。

10.如权利要求1所述的检测装置,其特征在于,

上述第2电压比上述第1电压小,上述第3电压比上述第2电压小。

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